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電子機器用ガラス廃棄時における有害元素の長期浸出評価(平成 20年度)
Evaluation of long-term leaching behavior of toxic elements from disposed glass for electronic applications

予算区分
BC 環境-公害一括
研究課題コード
0810BC001
開始/終了年度
2008~2010年
キーワード(日本語)
電子機器用ガラス,浸出,長期影響
キーワード(英語)
glass for electronic applications, leaching, long-term impact

研究概要

電子機器等の廃棄物に起因する環境問題が国内外で顕在化しており、具体的な環境対応および有害性の観点を含めた製品・再生品の規格化・基準化が火急の課題となっている。本研究では、電子機器の主要な部材であるガラス材料を取り上げ、廃棄時の有害元素の長期浸出特性に関する技術的な検討を実施する。これにより、電子機器等に使用されたガラスからの浸出や拡散に関する基礎データを提供し、廃棄・再利用時におけるガラスからの有害元素の浸出特性に関する試験法および長期環境安全性の評価に必要な技術的提言を行う。

研究の性格

  • 主たるもの:応用科学研究
  • 従たるもの:技術開発・評価

全体計画

2008年度:廃棄ガラスの浸出加速試験を行い、浸出、腐食のメカニズムを解明する。ガラス中有害物質の土壌環境中への拡散実験を行う。ガラスの廃棄および再利用の状況調査を踏まえ、長期環境安全性の評価のためのシナリオを設定する。
2009年度:ガラスの基礎特性や表面構造等と環境条件との関係について速度論的な取り扱いを含めた解析を行う。土壌構成物とガラスに含まれる元素との相互作用を調べる。長期環境安全性の評価試験を実行し、結果の解析を行う。
2010年度:加速試験データに基づき実環境での浸出の範囲を予測する。地圏環境評価システムを活用して、土壌、水、植物への移行等の環境挙動を解析し、リスク低減の方策を検討する。環境安全評価試験の規格化に向けた提案を行う。

今年度の研究概要

廃棄ガラス(ブラウン管ガラス、液晶用ガラス、レンズ用ガラスくず等)を用いて、長期間水中に浸漬した状態を想定しての加速試験を行う。加速試験後のガラス表面腐食層の観察をFE-SEM法などで行い、浸出、腐食のメカニズムを解明する。ガラスからの有害物質の浸出と土壌環境中への拡散実験を行う。廃棄および再利用プロセスの状況調査を踏まえ、長期環境安全性の評価のためのシナリオを設定する。既存の評価試験方法のガラスへの適用性を評価する。

備考

研究代表者:独立行政法人産業技術総合研究所 赤井智子

課題代表者

肴倉 宏史

  • 資源循環・廃棄物研究センター
    循環利用・適正処理処分技術研究室
  • 室長
  • 博士(工学)
  • 工学
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